Page 70 - 6400

1 – стандартний зразок підприємства; 2 – п’єзоелектричний пере-
творювач; 3 – зарубка; 4 – зондуючий імпульс;
5 – імпульс від зарубки прямим променем; 6 – імпульс від
зарубки однократно відбитим променем

Рисунок 6.10 - Схема налаштування чутливості
дефектоскопа

Відбиті сигнали від нижнього і від верхнього кута зразка
для налаштування визначають за зміною висоти сигналу під
час прощупування місць відбиття пальцем, змоченим контакт-
ною речовиною. Регулюючи тривалість розгортки, луна-
сигнал від верхнього кута зразка встановлюють на відстані від
10 до 15 мм від правого краю екрану дефектоскопа. Налаш-
тування строб-імпульса здійснюють за зарубками в зразку для
налаштування (рис. 6.10). Переміщуючи перетворювач по по-
верхні зразка, знаходять луна-сигнали від нижньої зарубки
прямим променем (рис. 6.10) і суміщують передній фронт
строб-імпульса з положенням максимуму цього луна-сигналу.
Далі знаходять положення луна-сигналу від верхньої за-
рубки однократно відбитим променем і суміщують з ним зад-
ній фронт строб-імпульса. Апаратура вважається налагженою
на дефектоскопію, якщо під час переміщення п’єзоперетво-
рювача по зовнішній поверхні зразка для налаштування кож-

69