Page 24 - 4582
P. 24

метод суттєво скорочує витрати часу на розрахунок припусків і тим самим сприяє
           зниженню часу на технологічну підготовку виробництва [10], с. 203...267.
                 Розрахунково-аналітичний  метод  знаходить  застосування  в  умовах  масового,
           великосерійного  і  серійного  виробництва,  а  також  в  умовах  одиничного
           виробництва при випуску складних цінних деталей важкого машинобудування. Він
           враховує  умови  реалізації  технологічного  процесу,  виявляє  можливості  економії
           металу  і  зменшення  трудомісткості  механічної  обробки  як  на  етапі  проектування
           нових, так і при аналізі існуючих технологічних процесів.
                 Розмір  мінімального  операційного  припуску  за  розрахунково-аналітичним
           методом визначають такі фактори:
                 1) висота  мікронерівностей  R         ,  отримана  на  суміжній  попередній  операції
                                                      zi  1
           (переході),  яка  залежить  від  методу,  режимів  і  умов  попередньої  обробки.  При
           виконанні  першої  операції  R             вибирають  за  початковою  заготовкою,  тобто
                                                 zi  1
           враховують метод її отримання.
                 2) глибина  дефектного  шару  металу  з  небажаними  властивостями  h ,  що
                                                                                                         1  i
           виникає  після  попередньої  обробки  в  зв’язку  із  зневугленням,  корозією,
           перенаклепом,  утворенням  тріщин  і  т.п.  Цей  шар  підлягає  повному  видаленню  в
           процесі виконання операції.
                 3)    просторове відхилення    розміщення оброблюваної поверхні відносно
                                                        i  1
           базових  поверхонь  заготовки.  До  просторових  відхилень  відносяться  кривизна  та
           короблення заготовки, ексцентричність отвору  відносно зовнішньої поверхні  (при
           закріпленні по ній в патроні верстата), увід свердла (зміщення осі свердла відносно
           його  правильного  положення),  непаралельність  і  неперпендикулярність  осей  і
           поверхонь  з  поверхнею,  що  є  технологічною  базою,  а  також  інші  відхилення  у
           взаємному  розміщенні  елементів  заготовки.  Ці  відхилення  мають  самостійне
           значення  і  повинні  враховуватись  окремо.  Величина  просторових  відхилень
           залежить від конфігурації і розмірних співвідношень заготовок.
                 Для плоских поверхонь сумарне значення просторових відхилень визначається
           як  арифметична  сума  складових,  а  для  поверхонь  обертання  за  правилом
           квадратного кореня.
                 4)    похибка установки    виникає в процесі виконання операції. При обробці
                                                i
           партії  заготовок  на  заздалегідь  налагодженому  верстаті  оброблювана  поверхня
           займає  різне  положення,  тобто  має  деяке  зміщення.  Це  зміщення  викликається
           коливаннями  сили  закріплення,  неоднорідністю  поверхневого  шару  заготовок,
           похибками обробки їх базових поверхонь, неточністю виготовлення і спрацювання
           опор  пристрою,  похибками  вимірювання  при  індивідуальній  установці  заготовок.
           Компенсація цих просторових зміщень вимагає збільшення мінімального припуску
           на величину  .
                            i
                 При  обробці  плоских  поверхонь  похибка  установки  може  бути  визначена  як
           арифметична сума її складових
                                                                              .                                            (3.30)
                                                     і        з   інд
                 Для поверхонь обертання – за правилом квадратного кореня
                                                              2
                                                          2
                                                                            2  ,                                            (3.31)
                                                   і     б    з    інд
                 де   – похибка базування;
                     б
                         – похибка закріплення.
                      з

                 Похибка  базування     визначається  з  геометричних  зв’язків  залежно  від
                                            б
            прийнятої схеми базування.
   19   20   21   22   23   24   25   26   27   28   29