Page 76 - 6578
P. 76

Лабораторна робота № 10

                              ДОСЛІДЖЕННЯ СТРУКТУРИ СПЕЧЕНИХ МАТЕРІАЛІВ
                                     МЕТОДАМИ ЕЛЕКТРОННОЇ МІКРОСКОПІЇ

                                                  Теоретична частина

                                 Максимальне  збільшення  оптичного  мікроскопа  обмежене
                            довжиною хвилі світлового випромінювання і складає близько 2500
                            разів.  Для  дослідження  структури  більшості  матеріалів  таке
                            збільшення  недостатнє  і  тому  використовуються  електронні
                            мікроскопи.  Вони  поділяються  на  растрові  (рисунок  10.1,
                            максимальне  збільшення  100-150  тисяч  разів)  і  просвічуючі
                            (максимальне збільшення 250-500 тисяч разів).


                                                         Катод

                                                                        Пучок електронів





                                                                          Електромагнітні
                                                                               лінзи
                                                                           (конденсори)


                                                                       Детектори  електронів
                                 А                            Б





                                             Зразок



                                 Рисунок 10.1 – Схема растрового електронного мікроскопа

                                 Дія растрового електронного мікроскопа основана на взаємодії
                            вузького  електронного  пучка  з  матеріалом  зразка.  Електронний
                                                            74
   71   72   73   74   75   76   77   78   79   80   81