Page 72 - 6377


2
2
∆= 2 − sin ± . (40)
2
0
2

При достатньому віддаленні джерела від поверхні пластинки кути падіння хвиль на
пластинку можна вважати рівними. У цьому випадку різниця ходу між інтерферуючими

хвилями буде визначатися товщиною пластинки у точці .

Рисунок 8 – Інтерференція від пластинки змінної товщини.

Звідси випливає, що усім точкам поверхні пластинки однакової товщини відповідає

одна й таж інтерференційна картина. Максимуми ( або мінімуми) однакової інтенсивності

відповідатимуть точкам поверхні, в яких товщина пластинки має одне й теж значення, звідки
і походить назва смуги рівної товщини. В залежності від форми пластинки змінюється і

форма інтерференційних смуг. Для пластинки у формі клину інтерференційні смуги рівної
товщини мають вигляд прямих, паралельних ребру клина. При спостереженні смуг однакової

товщини у монохроматичному світлі інтерференційна картина являє собою чергування
світлих і темних смуг. При спостереженні у білому світлі плівка забарвлюється у різні

кольори. Інтерференцію смуг однакової товщини можна спостерігати на вертикально

розміщеній мильній плівці. У такому положенні внаслідок стікання рідини плівка до низу
потовщується, у результаті чого вона має змінну товщину.

При використанні точкових джерел (метод поділу фронту) інтерференційна картина

не локалізована, вона спостерігається усюди в місцях перекриття інтерферуючих хвиль. На
відміну від цього при використанні протяжних джерел (метод поділу амплітуд)

інтерференційна картина є локалізована. Місце локалізації інтерференційної картини буде
там, де різниця ходу між інтерферуючими променями мінімально буде залежати від кута