Page 203 - Міністерство освіти та науки України

і при надто близькому підведенні зонду, але сила тиску зонду на

поверхню така, що можливе руйнування зонду та
пошкодження поверхні. У цьому випадку на розподілах

величини зсуву фаз вздовж профілів виділятимуться локальні

максимуми, пов’язані із “захопленням” зонду поверхнею в
даних точках (рис. 9.11в).

Таким чином, неперервний моніторинг та аналіз зсуву фази
в процесі підведення зонду до поверхні дозволяє легко

оптимізувати режими сканування.
Для усунення дефектів АСМ-зображення, аналізу даних чи
більш зручного їх представлення використовувались програмні
засоби комп’ютерної обробки даних, одержаних за допомогою
мікроскопу.
Проаналізуємо деякі з них
Віднімання середнього нахилу.
Одержані зображення часто мають загальний нахил, який
може проявлятись з різних причин: присутній реальний

нахил поверхні; перекіс зразка при фіксації тощо. Наявність
такого

202