Page 45 - 4143
P. 45

вдосконаленням методів і засобів інтеграції на кремнієвій підкладці

                  оптоелектронних              приладів          (випромінювачів,             модуляторів,
                  фотоприймачів)            на      основі       шарів        GaAs       і     традиційних
                  мікроелектронних  компонентів:  n-МОН,  р-МОН,  n-р-n,  p-n-р
                  транзисторів,          резисторів,        ємностей,         створених         в     рамках

                  субмікронних кремнієвих технологій.
                     Відповідні  фотоприймачі  (фотодіоди,  фототранзистори)  в
                  кожному чипі в 3D-HМ перетворюють оптичні сигнали від чипа до

                  чипа  в  електричні  і  служать  кінцевими  елементами  оптичних
                  з'єднань  і  ЛЗ.  В  3D-HМ  оптичні  параметри  мініатюрних
                  фотоприймачів  (спектральна  характеристика  чутливості,  апертура,
                  площа  світлочутливого  майданчика  та  ін.)  узгоджуються  з

                  оптичним каналом лазерних діодів, а електричні характеристики – з
                  характеристиками подальших логічних елементів КМОН, а також

                  БІКМОН, КБІ/КБІ-КМОН схем.
                     Найперспективнішою з погляду зниження споживаної потужності
                  і  збільшення  інтеграції  3D-HМ  представляється  організація
                  оптичних зв'язків із зовнішньою модуляцією периферійних джерел

                  світла - лазерних діодів, що приводить до практичного виключення
                  розсіювання  потужності  лазерів  на  периферії  чипів  (еквівалентів
                  вихідних  підсилювачів  потужності  в  стандартних  електронних

                  ВІС) і відповідно до істотного ослаблення проблем, пов'язаних із
                  здатністю навантаження виходів оптомікроелектронних УВІС.
                     Якщо  в  архітектурі  3D-HМ  і  НК  вдасться  не  тільки  зменшити
                  площі  периферійних  лазерів,  але  і  їх  число,  то  це  приведе  до

                  значного поліпшення техніко-економічних характеристик системи,
                  в  першу  чергу,  до  зниження  споживаної  потужності,  підвищення
                  рівню інтеграції, а також системній швидкодії. У міру подальшого

                  технологічного  прогресу  масштабування  мікроелектронних  і
                  оптомікроелектронних компонент і поліпшення їх характеристик в
                  3D-HМ          можна        чекати       якнайповнішої            реалізації       переваг

                  оптоелектроніки  для  передачі  інформації  між  нейрочипами  і
                  нейропластинами в НК.
                     Перспективним матеріалом для оптоэлектронних технологій НК

                  і НМ є наноструктуйованний пористий кремній, використовування
                  якого,  завдяки  його  принциповій  сумісності  із  стандартною
                  кремнієвою           технологією,          дозволяє         підвищити          надійність
                  вироблюваних нейрочипів.



                                                                   45
   40   41   42   43   44   45   46   47   48   49   50