Page 12 - 181_

2.4.4 Знайти систематичну похибку обробки  сист – розсіяння
розмірів деталей внаслідок систематичних чинників.

Розрахувати  сист для встановленого періоду стійкості: Т е чи Т Т , за
формулами (2.6)…(2.8). За лінією А 0 побудованої діаграми і за

розрахунками  сист встановити його мінімальне  min і максимальне  max

значення з врахуванням знаку. При цьому звернути увагу на  сист в

моменти часу 0 ;  m ; Т Т чи Т е . Відстань між крайніми систематичними

відхиленнями  max і  min власне і складає систематичну похибку (мкм)

– 
 сист max min . (2.10)
 
Якщо Т Т < Т е , то сумарна похибка обробки, тобто ширина розсіяння

розмірів в партії деталей, досягає величини допуску (рис.2.1)

 сист +  = Td . (2.11)
м.р

Якщо Т Т Т е , то обробку припиняють при Т е , тому сумарна похибка

(розсіяння розмірів в партії) буде менша за допуск. При цьому в межах
допуску утворюється запас точності шириною

2 = Td – ( сист +  ) . (2.12)
м.р

2.4.5 Визначити налагоджуваний розмір d н , мм.

Якщо Т Т <Т е , то d н знаходять за діаграмою точності (рис.2.1)
е
d  d  Д  м.н . (2.13)
н min min
2
Саме такий налагоджуваний розмір дає змогу досягти найбільшу
технологічну стійкість Т Т за умови досягнення заданої точності

(тобто за умови попадання розмірів в межі поля допуску).

Якщо Т Т Т е , то d н знаходять з врахуванням запасу точності (2.12)

е
d  d min  Д min  м.н  Д . (2.14)
н
2
Такий налагоджуваний розмір забезпечує розсіяння розмірів

всередині поля допуску і при цьому не ближче, ніж на величину  до
верхньої і нижньої його межі.

14