Page 26 - 6812

збільшувати радіаційний вихід джерела (що погіршує умови
роботи персоналу), час експозиції чи інтенсивність
випромінювання джерела (що знижує інтенсивність праці).
Вибір фокусної віддалі F в промисловій радіографії
проводиться для заданої товщини об’єкту  і з врахуванням
розмірів фокусної плями (активної частини) d a:
d
F  (  ) S (  a  1 ), (2.8)
U
r
де S - віддаль від плівки до зверненої до плівки поверхні
об’єкта контролю.
На практиці просвічування випромінюванням
рентгенівських апаратів і радіоактивних джерел проводять
найчастіше на фокусній віддалі 50 - 75 см. Менші фокусні
віддалі перевіряються експериментально на виявлюваність
допустимих дефектів. У гамма-дефектоскопії ряд
дефектоскопів використовують для просвічування з
фокусними віддалями, зв’язаними з конструктивними
особливостями виробів (труби, циліндри тощо). Це
обумовлюється в технічній документації на апаратуру.
При використанні бетатронів фокусні віддалі станов-
лять 1 - 2 м і більше через те, що поле опромінення цих уста-
новок мале і визначається з технічних характеристик бета-
тронів. Приблизні значення поля опромінення бетатрона при
енергії 15 МеВ на різних фокусних віддалях наведені в [2].
Геометрична нерізкість U r вибирається з умови U r< U вн
при просвічуванні тонкостінних виробів і U r < U P при
просвічуванні виробів великої товщини, коли розсіяне
випромінювання суттєво впливає на погіршення чутливості.
У цьому випадку загальна нерізкість зображення при U r = U P
дорівнює:

3
U= U r 3  U вн 3 =1,25U P - для ступеневих дефектів;

26