Page 158 - 6649

трольованим виробом, залежить від протяжності Δl і різниці лінійних
коефіцієнтів послаблення матеріалу і дефекту Δμ = μ — μf.
Радіографічні методи забезпечують просвічування виробів завтовшки
1-500 мм з чутливістю до виявлення дефектів 1-2 % від товщини.
Для промислової радіаційної дефектоскопії використовують рентге-
нівські переносні і стаціонарні апарати типу Арина, РПД, Site-X, Мира,
гамма-дефектоскопи типу ГУЛ, РИД, Гаммарид, в яких застосовують дже-
рела випромінювання Тулій-170, Селен-75, Іридій-192, Цезій-137, Кобальт-
60, прискорювачі різних типів та ін.; радіографічні плівки, флуоресцентні
посилюючі екрани, маркувальні знаки за ГОСТ 15843-79, еталони чутли-
вості за ГОСТ 7512-82, устаткування для обробки і розшифровки знімків.
Альтернативною є кольорова радіографія. Перевага її полягає в тому,
що малі зміни в кольорі сприймаються оператором краще, ніж аналогічні
зміни у відтінках сірого кольору. Техніка, що використовується для кольо-
рової зйомки, ідентична звичайній. Застосування в промисловій дефекто-
скопії електрорентгенографії (ксерорадіографії) збільшує продуктивність і
зменшує вартість радіографії.
Метод вихреструмової дефектоскопії має в основі такі положення.
Зміни в структурі електромагнітного поля, обумовлені перерозподілом
вихрових струмів в об'ємі матеріалу за наявності в ньому різного роду де-
фектів, містять достатню інформацію для визначення типу, геометричних
розмірів і місця розташування дефекту. Ця інформація може бути сприйня-
та різними за конструкцією первинними перетворювачами.
Технічні засоби для вихреструмового контролю є високотехнологіч-
ними приладами і складною системою оброблення вимірювальної інфор-
мації. Лідерами з випуску серійних приладів даного типу є Olympus NDT,
Rohmann GmbH (Ні-меччина), Centurion NDT (США) та ряд інших.
Спеціалізовані прикладні розробки для авіакосмічної галузі на високому
рівні здійснюють у Фізико-механічному інституті ім.Г.В. Карпенка НАН
України спільно із Науково-виробничим центром «Леотест-Медіум» (м.
Львів).
Необхідно також знати те, що амплітуда і фаза поля дефекту одно-
значно визначають глибину залягання і величину дефекту. При цьому
універсальним інформаційним параметром є фаза, що визначає глибину
залягання дефекту і мало залежна від інших параметрів дефекту, тоді як
амплітуда істотно залежить від виду дефекту і пов'язана з його перерізом
або об'ємом, а також визначається глибиною залягання дефекту. Практич-
но очікуваний тип дефекту в конкретному виробі звичайно відомий. Тому
фаза і амплітуда поля дефекту можуть використовуватись для вирішення
елементарних задач дефектометрії – визначення глибини залягання і
величини дефектів простої форми.

157