Page 64 - 6400

1 – збуджуючий імпульс; 2 – імпульс від дефекту;
3 – донний імпульс

Рисунок 6.5 – Суть ультразвукового методу дефектоскопії
і товщинометрії

На практиці під час проведення ультразвукової дефек-
тоскопії чи товщинометрії в основному використовують луно-
імпульсний (луно-імпульсний) метод (або метод луно-локації).
Він полягає в «прозвучуванні» об’єкту контролю короткими ім-
пульсами 1 (рис. 6.5) ультразвуку і реєстрації приймачем відбитих
імпульсів 2 і 3 відповідно від дефекту і нижньої поверхні об’єкту
контролю. Ознакою дефекту є поява луна-сигналу (імпульсу) 2
на екрані дефектоскопа (рис. 6.5).
Під час вимірювання товщини об’єкта імпульсними тов-
щиномірами, як правило, вимірюють час між зондуючим і одним
з відбитих імпульсів або між двома луно-імпульсами. Під час цьо-
го вимірювана товщина визначається за формулою
vt
d  , (6.2)
2

де v - швидкість поширення ультразвукового імпульсу у ви-
робі,
t - час поширення ультразвукового імпульсу у виробі.
Під час проведення ультразвукової дефектоскопії по-
хилими п’єзоперетворювачами найчастіше використовують
прямий чи однократно відбитий (рис. 6.6) акустичний про-
мінь.
63