Page 23 - 5

Визначення H g  yx ,,  z зводиться до розв’язку нелінійних рівнянь з

врахуванням граничних умов. Точний розв’язок задачі в сформульованому

виді неможливий внаслідок неподоланих математичних затруднень. Тому

розглядають приблизні задачі в лінійному наближенні, тобто передбачається,

що феромагнетик з дефектом намагнічується таким однорідним магнітним

полем H , при якому магнітні проникності матеріалу і дефекту не залежать
0

від намагнічуючого поля (  const). Навіть при такому наближенні задача

не розв’язується.

Реально в практичних умовах для кожної конкретної задачі

розглядаються приблизні методики розрахунку магнітних полів стосовно

конкретних форм дефектів з сприйнятливими для практики допущеннями.

Алгоритми для розрахунку магнітних полів певних конкретних видів

дефектів подаються в спеціалізованих довідниках.

Магнітне поле розсіяння дефекту H над виробом тим більше, чим
g

більший дефект і чим ближче він знаходиться до поверхні, над якою

здійснюють вимірювання. Це поле може суттєво перевищувати первинне

поле над виробом. Так, наприклад, при   400 максимальне значення

нормальної складової напруженості поля дефекту циліндричної форми

радіуса 1 мм перевищує первинне поле приблизно в 30 разів, а тангенціальна

складова цього ж поля ще більш суттєвіша (перевищує більше, ніж в 50

разів). Із збільшенням глибини залягання дефекту ефект посилення

магнітного поля над дефектом послаблюється внаслідок екранування дефекту

поверхнею об’єкта контролю. Але при реальних умовах магнітного контролю

зазвичай без особливих затруднень можна виявити дефекти на глибині

залягання до 25 – 30 мм.