Page 25 - 5
P. 25
значень індукції, але в такому випадку виключений вплив намагнічуючого
поля, чим частково компенсується втрата чутливості. Цей спосіб
застосовують для контролю магнітотвердих матеріалів з великою
залишковою індукцією. В магнітом’яких матеріалах навіть при досить
великому значенні залишкової індукції B r індукція може виявитись малою
через розмагнічуючий вплив ОК.
В дефектоскопії використовують обидва методи. Існують також
різновиди неруйнівного контролю, які реалізуються лише одним з вказаних
способів. Наприклад, оцінка твердості коерцитиметричним методом
здійснюється лише способом залишкової намагніченості, в той час, коли
структуроскопія методом вищих гармонік можлива лише в прикладеному
полі.
Порівнюючи обидва способи, доцільно конкретизувати переваги
кожного. У способі залишкової намагніченості це більша технологічність,
можливість контролю в умовах, коли відсутні джерела живлення
електромагнітів. Спосіб прикладеного поля забезпечує більш високу
чутливість, дозволяє контролювати об’єкти з матеріалів з малою індукцією
насичення. Складності виникають при контролі коротких деталей, коли
з’являється розмагнічуюче поле, яке порушує паралельність магнітних ліній і
погіршує умови виявлення дефектів.
3.2 Методи та засоби намагнічування об’єктів контролю
Так як магнітний контроль базується на реєстрації магнітних полів
розсіяння, то обов'язковою операцією контролю є намагнічування
контрольованої деталі. Найкраще дефекти виявляються у випадку, коли
площина дефекту перпендикулярна напрямку намагнічування. Через те, що
положення площини дефекту наперед не відомо, деталі простої форми
намагнічують в одному чи двох напрямках, а деталі складної форми – в
декількох.