Page 25 - 5
P. 25

значень  індукції,  але  в  такому  випадку  виключений  вплив  намагнічуючого
                  поля,  чим  частково  компенсується  втрата  чутливості.  Цей  спосіб


                  застосовують  для  контролю  магнітотвердих  матеріалів  з  великою
                  залишковою  індукцією.  В  магнітом’яких  матеріалах  навіть  при  досить


                  великому значенні залишкової  індукції B r  індукція може виявитись малою
                  через розмагнічуючий вплив ОК.


                          В  дефектоскопії  використовують  обидва  методи.  Існують  також

                  різновиди неруйнівного контролю, які реалізуються лише одним з вказаних

                  способів.  Наприклад,  оцінка  твердості  коерцитиметричним  методом

                  здійснюється  лише  способом  залишкової  намагніченості,  в  той  час,  коли

                  структуроскопія  методом  вищих  гармонік  можлива  лише  в  прикладеному

                  полі.

                          Порівнюючи  обидва  способи,  доцільно  конкретизувати  переваги

                  кожного.  У  способі  залишкової  намагніченості  це  більша  технологічність,

                  можливість  контролю  в  умовах,  коли  відсутні  джерела  живлення

                  електромагнітів.  Спосіб  прикладеного  поля  забезпечує  більш  високу

                  чутливість, дозволяє  контролювати об’єкти з матеріалів з малою індукцією

                  насичення.  Складності  виникають  при  контролі  коротких  деталей,  коли

                  з’являється розмагнічуюче поле, яке порушує паралельність магнітних ліній і

                  погіршує умови виявлення дефектів.



                                       3.2 Методи та засоби намагнічування об’єктів контролю



                          Так  як  магнітний  контроль  базується  на  реєстрації  магнітних  полів

                  розсіяння,  то  обов'язковою  операцією  контролю  є  намагнічування

                  контрольованої  деталі.  Найкраще  дефекти  виявляються  у  випадку,  коли

                  площина дефекту перпендикулярна напрямку  намагнічування. Через те, що

                  положення  площини  дефекту  наперед  не  відомо,  деталі  простої  форми

                  намагнічують  в  одному  чи  двох  напрямках,  а  деталі  складної  форми  –  в

                  декількох.
   20   21   22   23   24   25   26   27   28   29   30