Page 83 - 4797

 – інтенсивність виявлення дефектів.
Функція середнього значення кількості відмов:
 (t )  N( 1 exp(  t )) (8.7)
Оцінки параметрів моделі визначають, виходячи з
системи рівнянь:
n
 f i
ˆ
N  i 1
ˆ
1 exp(  t )
n , (8.8)
n 
ˆ
t exp(  t ) n f i n ˆ ˆ
n
i 1   f (t exp(  t ) t exp( t i 1  i 1 ))
i
i
i
ˆ
ˆ
ˆ
1 exp(  t ) i 1 exp(  t i 1 ) exp(  t ) (8.9)
i
n
Модель базова S-подібна
Формат вихідних даних:
- моменти часу прояву дефектів (ti, i = 1,…,n) або
кількість відмов на часових інтервалах тестування (fi,
i = 1,…,n).
Допущення моделі:
 загальне число відмов за час t, M(t), розподілено за
законом Пуассона;
 час між (i-1)-ою та i-ою відмовами залежить від часу до
(i-1)-ої відмови;
 нові дефекти у процесі коригування не вносяться;
 прояв усіх дефектів відбувається незалежно один від
одного;
 ПЗ тестується в умовах, близьких до реальних умов
експлуатації.
Функція інтенсивності відмов:
 (t )  N t exp( 2  t )
, (8.10)
де N – вихідна невідома кількість дефектів у ПЗ;
 – інтенсивність виявлення дефектів.
Функція середнього значення кількості відмов:
82