Page 48 - 111

системи ВПІД (верстат-пристрій-інструмент-деталь) від змінних і постійних

сил; похибка закріплення; похибка базування; температурні деформації системи

ВПІД; неточність наладки і підналадки; зношення різального інструменту;

деформація деталі внаслідок перерозподілу внутрішніх напружень і т.п. Аналіз

причин появи браку і його усунення є прямим завданням технолога цеху.

Вивчення причин, які викликають похибки оброблених деталей, дозволяє

встановити зв`язок між цими причинами і значеннями похибок. Впливаючи

деяким чином на причини, які викликають похибки, можна знизити останні до

мінімального значення.

6.4.2 Класифікація похибок і аналіз результатів вимірювання методами

математичної статистики

Відхилення розмірів деталей обумовлені межами числових значень

відхилень розмірів: обладнання, пристроїв, інструменту, вимірювань і т.п. Ці

відхилення (похибки) діляться на систематичні і випадкові.

Систематичні похибки - складова похибки вимірювання, яка залишається

постійною або закономірно змінюється при повторних вимірюваннях одної і тої

самої величини. Виникнення систематичних похибок обумовлено відповідними

причинами. Наприклад, неточність виготовлення інструменту приводить до

утворювання похибки, яка носить систематичний характер (постійний для всієї

партії деталей).

Випадкові похибки - похибки, невизначено змінні за величиною і знаком,

виникнення, яких неможливо передбачити передчасно. Ці похибки виникають

від спільного проявлення великої кількості причин. Наприклад, коливання

припуску, неоднорідність матеріалу і т.п. Випадкові похибки приводять до

розсіювання розмірів деталей в одній партії. Їх сумарна похибка визначається

як середнє квадратичне.

У масовому виробництві оцінка впливу сукупності систематичних і

випадкових чинників на отримувану точність встановлюється статистичним

методом. В основі методу лежить визначення сумарної похибки за допомогою

знаходження розмірів партії оброблених деталей і аналізу результатів методами

математичної статистики. Отримані розміри утворюють поле розсіювання, яке

48