Page 184 - Міністерство освіти та науки України
P. 184

деформація консолі і поверхні зразка,    c   r )0(  r( t  ) 0  s .
                               Використовуючи потенціал Ленарда-Джонса, можна
                            записати для сили взаємодії зонда із поверхнею:
                                                    U cs    C          C        ,
                                            P( r)
                                                     r     r n    r )0(  c  s  n
                            тут С і n залежать від типу сил, що діють між
                            кінчиком голки зонда і зразком.
                               При умові рівноваги
                                                         U     U
                                                                     , 0
                                                          c     s
                            тобто      k c  c  U cs  k s  s  U cs  0  і   s   c  k c  .
                                                r            r                  k s
                            Таким чином,   одержимо:
                                              C         .                               (9.3)
                             P[ r( t)]                 n
                                            k c
                                       c  1       r )0(
                                            k s


                                Перейдемо тепер до  узагальнення викладеного з точки зору
                            застосування модельного підходу до вимірювання характеристик
                            поверхні з використанням атомно-силової мікроскопії.
                               Як  уже зазначалось, при вивченні властивостей
                            об’єктів методами скануючої зондової мікроскопії,
                            основним  результатом  дослідження  є  зображення
                            поверхні цих об’єктів. В комп’ютері інформація,
                            одержана  за  допомогою  СЗМ,  представляється  у
                            вигляді числової матриці. Кожне число в цій матриці,
                            в  залежності  від  типу  мікроскопу  і  режиму

                                                           183
   179   180   181   182   183   184   185   186   187   188   189