Page 69 - 6397
P. 69

У  цьому  випадку  при  збільшенні  товщини  покриття
                            зменшується магнітний потік, що проходить через давач Хол-
                            ла,  і  знижується  ЕРС,  величина  якої  може  характеризувати
                            товщину покриття. Цей метод дозволяє вимірювати товщину
                            неферомагнітних  або  слабоферомагнітних  покриттів,  нанесе-
                            них на феромагнітну основу. Діапазон вимірюваної товщини
                            складає 0...10 мм при точності біля ± 10 %.
                                  Якщо  на  осерді  котушки,  яка  збуджує  магнітну  індук-
                            цію, встановити другу (вимірювальну) обмотку (рис.5.2, в), то
                            величина наведеної ЕРС в цій обмотці буде пропорційна шви-
                            дкості зміни магнітної індукції. При цьому із збільшенням то-
                            вщини покриття зменшуватиметься ЕРС, що наводиться у ви-
                            мірювальній обмотці. По величині виміряної ЕРС визначають
                            товщину покриття. Індукційний метод дозволяє контролювати
                            товщину  неферомагнітних  покриттів,  нанесених  на  феромаг-
                            нітну підкладку з діапазоном товщини 0...10 мм при середній
                            похибці ± 3...± 5 %.
                                  Електричні  методи  засновані  на  тому,  що  багато  елек-
                            тричних характеристик матеріалу за певних умов прямо зале-
                            жать від його товщини.
                                  При вимірюванні величини електричної провідності, яка
                            пропорційна товщині покриття, використовують чотири елек-
                            троди  (рис.5.2,г).  Два  з  них  підключають  до  джерела  елек-
                            тричного  струму,  а  два  внутрішні  електроди  сполучають  з
                            електричним вольтметром, покази якого характеризують тов-
                            щину вимірюваного покриття. Цим методом можна виміряти
                            товщину  покриттів  із  струмопровідного  або  напівпровідни-
                            кового  матеріалу,  нанесеного  на  неструмопровідну  основу.
                            Провідність  покриття  залежить  від  його  товщини,  причому
                            точність вимірювання може складати ± 2 %. Процес вимірю-
                            вання дискретний.
                                  У  разі  вимірювання  товщини  покриття  з  струмонепро-
                            відного  матеріалу  на  струмопровідній  основі  зручний  метод
                            ємності,  при  якому  діелектричні  властивості  покриття  впли-
                            вають  на  ємність  конденсатора,  включеного  в  коливальний
                            контур (рис.5.2, д). Товщина покриття пропорційна квадрату
                            частоти коливального контура. Метод придатний для вимірю-

                                                               68
   64   65   66   67   68   69   70   71   72   73   74