Page 69 - 6397
P. 69
У цьому випадку при збільшенні товщини покриття
зменшується магнітний потік, що проходить через давач Хол-
ла, і знижується ЕРС, величина якої може характеризувати
товщину покриття. Цей метод дозволяє вимірювати товщину
неферомагнітних або слабоферомагнітних покриттів, нанесе-
них на феромагнітну основу. Діапазон вимірюваної товщини
складає 0...10 мм при точності біля ± 10 %.
Якщо на осерді котушки, яка збуджує магнітну індук-
цію, встановити другу (вимірювальну) обмотку (рис.5.2, в), то
величина наведеної ЕРС в цій обмотці буде пропорційна шви-
дкості зміни магнітної індукції. При цьому із збільшенням то-
вщини покриття зменшуватиметься ЕРС, що наводиться у ви-
мірювальній обмотці. По величині виміряної ЕРС визначають
товщину покриття. Індукційний метод дозволяє контролювати
товщину неферомагнітних покриттів, нанесених на феромаг-
нітну підкладку з діапазоном товщини 0...10 мм при середній
похибці ± 3...± 5 %.
Електричні методи засновані на тому, що багато елек-
тричних характеристик матеріалу за певних умов прямо зале-
жать від його товщини.
При вимірюванні величини електричної провідності, яка
пропорційна товщині покриття, використовують чотири елек-
троди (рис.5.2,г). Два з них підключають до джерела елек-
тричного струму, а два внутрішні електроди сполучають з
електричним вольтметром, покази якого характеризують тов-
щину вимірюваного покриття. Цим методом можна виміряти
товщину покриттів із струмопровідного або напівпровідни-
кового матеріалу, нанесеного на неструмопровідну основу.
Провідність покриття залежить від його товщини, причому
точність вимірювання може складати ± 2 %. Процес вимірю-
вання дискретний.
У разі вимірювання товщини покриття з струмонепро-
відного матеріалу на струмопровідній основі зручний метод
ємності, при якому діелектричні властивості покриття впли-
вають на ємність конденсатора, включеного в коливальний
контур (рис.5.2, д). Товщина покриття пропорційна квадрату
частоти коливального контура. Метод придатний для вимірю-
68