Page 67 - 6397
P. 67

від порядкового номера елемента в періодичній системі і тов-
                            щини шару, що вимірюється. Метод зворотного розсіювання
                            застосовується  для  вимірювання  товщини  покриття  при  всіх
                            поєднаннях матеріалів, коли порядкові номери (Zo – матеріалу
                            основи, Zп  –  матеріалу покриття) значно відрізняються один
                            від одного, зокрема коли виконується умова |Zo–Zn| >3.
                                  Метод, який базується на вимірюванні поглинання, мож-
                            на  використовувати  при  будь-якому  поєднанні  матеріалів.  В
                            залежності від типу джерела випромінювання маса поєднання
                            основний  матеріал  –  покриття  на  одиницю  поверхні  може
                                                          -1        4      2
                            складати приблизно від 1∙10  до 2∙10 мг/см . Точність вимі-
                            рювань складає ± 3...± 10 % в залежності від матеріалу.
                                  Рентгенофлуоресцентний  метод  –  збудження  атомів  за
                            допомогою бета- або квантового випромінювання, при якому
                            збуджені  атоми  емітують  рентгенівське  випромінювання,  ін-
                            тенсивність якого залежить від числа випромінюючих атомів,
                            тобто від  товщини  шару  –  особливо  успішно  застосовується
                            при вимірюванні товщини дуже тонких покриттів – приблизно
                            до 10 мкм. При цьому повинна виконуватися умова |Zo–Zn| ≥
                            ≥ 1. Діаметр поля вимірювання повинен бути не менше 10 мм.
                                  Магнітні методи вимірювання товщини покриття осно-
                            вані на прямому або непрямому використанні сил взаємодії з
                            основою або вимірюванні інтенсивності магнітного поля.
                                  При наближенні магніту до феромагнітної деталі вини-
                            кає сила притягання, яка залежить від відстані між магнітом і
                            виробом. Ця сила, яка необхідна для відриву  магніту від ос-
                            новного матеріалу, покритого шаром неферомагнітного мате-
                            ріалу, є непрямою мірою товщини покриття. Даний магнітний
                            метод  застосовується  в  приладах  з  електромагнітом,  де  сила
                            відриву осердя від  контрольованого виробу визначається ве-
                            личиною струму намагнічування, що протікає через котушку
                            електромагніту  у момент відриву осердя від виробу (рис.5.2,
                            а).  Метод  придатний  для  вимірювання  товщини  шарів  до
                            10 мм з точністю 10...15 % при вимірюванні в окремих точках.
                                 При  використанні  в  якості  контрольованого  параметра
                            магнітного потоку детекторами можуть служити давачі Холла
                            (рис.5.2,б).

                                                               66
   62   63   64   65   66   67   68   69   70   71   72