Page 140 - 4687
P. 140
Рисунок 1.36 – Формування різнотовщинності покриттів
при нанесенні їх у вигляді смуг
1.4.6 Металографічні і рентгеноструктурні дослі-
дження покриттів
Металографічні дослідження при розробці технології
нанесення покриттів і їх подальшого контролю відіграють
важливу роль. Розроблено методики металографічного аналізу
починаючи з мікронного діапазону товщини. Оптична та еле-
ктронна мікроскопія дозволяє оцінити багато показників якос-
ті покриттів, а також структуру і фазовий склад.
Металографічний аналіз внутрішніх покриттів дозволяє
в першу чергу оцінити зміну структурного стану за всією гли-
биною шару. Легко простежуються зміна величини зерна:
дроблення при механічному впливі; зростання при високоте-
мпературній обробці поверхні. Оптична та електронна мікро-
скопія дозволяє визначити зміну фазового складу в поверхне-
вому шарі при термічному і термодифузійному впливі, напри-
клад розчинення надлишкових фаз при нагріванні з подаль-
шою фіксацією мстастабільного твердого розчину або його
розпаду; синтезування нових фаз при термодифузійного наси-
ченні. Металографічний аналіз малоефективний при оціню-
ваннях структурного стану поверхонь оброблених впливом
високоенергетичних потоків.
139