Page 140 - 4687
P. 140

Рисунок 1.36 – Формування різнотовщинності покриттів
                           при нанесенні їх у вигляді смуг

                1.4.6  Металографічні  і  рентгеноструктурні  дослі-
           дження покриттів
                Металографічні  дослідження  при  розробці  технології
           нанесення  покриттів  і  їх  подальшого  контролю  відіграють
           важливу роль. Розроблено методики металографічного аналізу
           починаючи з мікронного діапазону товщини. Оптична та еле-
           ктронна мікроскопія дозволяє оцінити багато показників якос-
           ті покриттів, а також структуру і фазовий склад.
                Металографічний аналіз внутрішніх покриттів дозволяє
           в першу чергу оцінити зміну структурного стану за всією гли-
           биною  шару.  Легко  простежуються  зміна  величини  зерна:
           дроблення при механічному впливі; зростання при високоте-
           мпературній обробці поверхні. Оптична та електронна мікро-
           скопія дозволяє визначити зміну фазового складу в поверхне-
           вому шарі при термічному і термодифузійному впливі, напри-
           клад  розчинення  надлишкових  фаз  при  нагріванні  з  подаль-
           шою  фіксацією  мстастабільного  твердого  розчину  або  його
           розпаду; синтезування нових фаз при термодифузійного наси-
           ченні.  Металографічний  аналіз  малоефективний  при  оціню-
           ваннях  структурного  стану  поверхонь  оброблених  впливом
           високоенергетичних потоків.



                                         139
   135   136   137   138   139   140   141   142   143   144   145