Page 69 - 4622
P. 69

Відхилення променя на екрані (дисплеї) у вертикальному
                            напрямі  (висота  імпульсів)  характеризує  амплітуду  прийня-
                            того сигналу і є пропорційною величині дефекту.
                                  Дефектоскопи  настроюють  на  спеціальних  еталонних
                            зразках (СО-1, СО-2, СО-3). Зовнішній вигляд дефектоскопів
                            різних типів наведений на рис. 6.3.

















                                             а)                           б)

                                                 а – УД2-12;   б – DIO 562

                                  Рисунок 6.3 – Загальний вигляд ультразвукових
                                                     дефектоскопів

                                  Сучасні  дефектоскопи є мікропроцесорними приладами,
                            що дозволяють проводити багатопараметрове оброблення ві-
                            дображеного сигналу, що підвищує  інформативність  контро-
                            лю. У дефектоскопах даного типу  інформація виводиться на
                            рідкокристалічний  дисплей,  завдяки  цьому  дефектоскопи  та-
                            кого  типу  володіють  невеликими  габаритами  і  масою.  Зов-
                            нішній вигляд мікропроцесорного дефектоскопа з рідкокрис-
                            талічним дисплеєм (наприклад, DIO-562) зображений на рис.
                            6.3,б. Для проведення УЗК зварних з'єднань використовують
                            дефектоскопи, що працюють в діапазоні частот 1 – 5 МГц.
                                  Умовними розмірами виявленого дефекту є:  протяжніс-
                                                            68
   64   65   66   67   68   69   70   71   72   73   74