Page 65 - 4622

метод дозволяє використовувати не імпульсне, а безперервне
випромінювання. Ознакою дефекту при дзеркально-тіньовому
методі є зменшення амплітуди сигналу 2 (див.рис. 6.1, а),
відображеного від протилежної (донної) поверхні виробу.

Г – генератор зондуючих імпульсів, П – приймач

Рисунок 6.1 – Схема ультразвукового контролю
луна-імпульсним (а) і тіньовим (б) методами

УЗ-контроль широко поширений в промисловості для
виявлення дефектів: тріщин, непроварів, шлакових і інших
включень у деталях товщиною від 1,0 мм до 2800 мм. До
експлуатаційних параметрів луна-методу відносяться: чутли-
вість методу контролю і роздільна здатність. Чутливість ме-
тоду контролю характеризує мінімальні розміри дефектів того
або іншого типу, які впевнено (із заданою вірогідністю) вияв-
ляються у виробах певного типу. Вона може бути оцінена
статистичною обробкою результатів контролю і дослідженням
металографії великої серії об’єктів цього виду.
Апаратура для ультразвукового контролю складається з
п’єзоперетворювача, що містить п’єзоелемент для випромі-
нювання і прийому ультразвукових коливань, електронного
64