Page 44 - 4582
P. 44

   –  похибка  закріплення;  залежить  від  схеми  закріплення  конструкції
                  з
           заготовки і пристрою [26], с. 30-39;
                    –  похибка  пристрою;  залежить  від  точності  виготовлення  і  спрацювання
                  пр
           опорних  поверхонь  пристрою,  точності  їх  розміщення  відносно  приєднувальних
           поверхонь пристрою і точності установки пристрою на верстаті [26], с. 40-43;
                   – економічна точність методу обробки [4], с. 162-169;
            Т ,   ,  Т ,    – складові похибки розмірного налагодження за еталоном [26], с.
             е   поп   щ    рег
           50-57;
                 Т     – допуск на розмір кондуктора «база – вісь отвору постійної кондукторної
                  K .L 1
           втулки»;
                 Т     – допуск на міжосьовий розмір отворів постійних кондукторних втулок;
                  K .L 2
                  ,   ,  S  – складові похибки пристрою зумовлені перекосом інструмента в
                  пeр   екс  в
           кондукторній  втулці  ( ),  ексцентриситетом  отвору  змінної  втулки  та  її  опорної
                                        пeр
           поверхні ( ), зазором між постійною і змінною втулками ( S ), зазорами в рухомих
                         екс                                                         в
           з’єднаннях кондукторної плити до корпусу ( ) [16];
                                                                  р. з
                 Т ,   ,   ,           –  складові  похибки  ділильного  механізму  від:  точності
                  д. а  д. н  д. ф   д. екс
           розміщення  гнізд  на  поділовому  диску  (Т )  найбільшого  зазора  в  напрямних
                                                                  д. а
           поворотної  частини  ділильного  механізму  ( ),  найбільшого  сумарного  зазора
                                                                    д. н
           фіксатора  ( ),  ексцентриситету  опорної  частини  відносно  напрямної  частини
                           д. ф
           поділового диска (        ) [26], с. 135-137;
                                   д. екс
                   – похибка методу обробки. її величина залежить від методу обробки;
                  м. а
                 D   –  діаметр  поверхні  заготовки  на  якій  розміщені  оброблювані  поверхні  і
                   з
           задано їх кутове розміщення;
                 
                  поз  –  похибка  позиціювання  інструмента  чи  заготовки  (від  конструкції
           пристрою не залежить);
                    –  похибка  зміщення  інструмента  в  ході  обробки  отвору  (від  конструкції
                  зм
           пристрою не залежить).
                 Розрахункові  формули  і  приклади  розрахунку  пристроїв  на  забезпечення
           точності  розміщення  поверхонь  заготовок,  оброблених  з  допомогою  пристроїв,
           викладені в [26], с. 85-104 – для обертових пристроїв, с. 17-129 – для кондукторів, с.
           145-151 – для інших пристроїв.
                 Методика розрахунку довговічності (ресурсу роботи) пристрою описана в [26],
           с.  44-49,  115-117.  Послідовність  виконання  розрахунку  пристрою  на  точність
           викладена в [26], с. 61-62.
                 Визначені  допуски  і  межі  спрацювання  його  поверхонь  на  виготовлення
           пристрою слід вказати на загальному вигляді пристрою.
                Контрольний  пристрій.  Контрольні  чи  контрольно-вимірювальні  пристрої
           використовують у випадках, коли неможливо або недоцільно (недостатня точність,
           продуктивність)  застосовувати  вимірювальні  (контрольні)  інструменти.  Такі
           пристрої  використовують  насамперед  для  вимірювання  чи  контролю  точності
           взаємного  розміщення  поверхонь  чи  осей  –  паралельність,  перпендикулярність,
           симетричність, кутове розташування, радіальне чи осьове биття, співвісність і т.д.
           Іноді пристрої служать для перевірки лінійних розмірів, наприклад, для одночасної
           перевірки багатьох параметрів заготовки.
                 В контрольних пристроях виділяють такі основні вузли:
                 -  опорні, опорно-затискні і затискні;
                 -  механізми для обертання заготовок (деталей);


                                                             40
   39   40   41   42   43   44   45   46   47   48   49