Page 44 - 6793
P. 44

отвору,  розташованому  на  відстані  10  мм  від  зовнішньої
                            поверхні, і по нижньому куту випробувального зразка.
                                  Налаштування      швидкості     розгортки    здійснюється
                            шляхом плавного переміщення перетворювача уздовж робочої
                            поверхні  СЗП  з  послідовним  одержанням  на  екрані
                            дефектоскопа сигналів, відбитих від:
                                  а)  нижнього  і  верхнього  кутового  відбивача  (зарубки)
                            для елементів товщиною менше 8 мм;
                                  б) нижнього і верхнього кутів для елементів  товщиною
                            від 8 до 65 мм;
                                  в)  від  бічного  отвору  і  нижнього  кута  для  елементів
                            товщиною 65 мм і більше.
                                  Відбиття від верхнього і нижнього кутів СЗ визначають
                            по  зміні  висоти  сигналу  при  „промацуванні”  місць  відбиття
                            пальцем, змащеним контактною рідиною.
                                  Під   час    контролю     зварних    з'єднань    необхідно
                            налаштувати  глибиномір  дефектоскопа  відповідно  до  вимог
                            інструкції заводу-виробника дефектоскопа.
                                  Налаштування      чутливості    дефектоскопа     під   час
                            контролю  зварних  з'єднань  елементів  товщиною  до  8  мм
                            здійснюється по зарубках у СЗП, а товщиною 8 мм і більше –
                            по бічному отвору у СЗ № 2 відповідно до схем, наведених на
                            рисунку 5.4 (технологія настроювання по АВД-шкалах). Для
                            товщин  8-20  мм  допускається  налаштування  чутливості  по
                            зарубках  або  плоскодонних  відбивачах,  але  при  цьому  слід
                            обов'язково  усувати  залежність  чутливості  від  глибини  за
                            допомогою  ЧРЧ  (додаток  К)  або  шляхом  порівняння
                            параметрів  дефектів  з  штучними  відбивачами  на  відповідній
                            глибині.
                                  Налаштування  по АВД-діаграмах може відрізнятися від
                            наведеного вище, але пріоритетними при налаштуванні мають
                            бути  рекомендації  заводу-виробника  дефектоскопу  і  схеми
                            АВД-діаграм конкретних ПЕП.
                                  Допускається  налаштування  чутливості  по  кутових  і
                            плоскодонних  відбивачах,  площа  S  яких  відрізняється  від
                            регламентованого  значення  So.  При  цьому  проводиться
                            відповідне коректування чутливості на величину ΔА:
                                                                 S
                                                       A   20  lg  0  , дБ.
                                                                  S
                                  При цьому величина ΔА не повинна перевищувати 12 дБ.
   39   40   41   42   43   44   45   46   47   48   49