Page 55 - 6394
P. 55

1 – стандартний зразок підприємства; 2 – п’єзоелектричний
                                    перетворювач; 3 – зарубка; 4 – зондуючий імпульс;
                                  5 – імпульс від зарубки прямим променем; 6 – імпульс від
                                         зарубки однократно відбитим променем

                                   Рисунок 5. 6 - Схема налаштування чутливості
                                                     дефектоскопа

                                  Далі знаходять положення луна-сигналу від верхньої за-
                            рубки однократно відбитим променем і суміщують з ним зад-
                            ній  фронт  строб-імпульса.  Апаратура  вважається  налагод-
                            женою  на  дефектоскопію,  якщо  під  час  переміщення  п’єзо-
                            перетворювача по зовнішній поверхні зразка для налаштуван-
                            ня кожний раз в момент попадання штучного дефекту в зону
                            випромінювання  УЗК  на  екрані  дефектоскопа  з’являється
                            стійкий  імпульс  від  штучного  дефекту  і  спрацьовує  система
                            автоматичної сигналізації дефекту.
                                  Якщо у зварному з’єднані є тріщини або непровари, пер-
                            пендикулярні  до  поверхні,  то один  перетворювач  вже  не за-
                            безпечує  необхідної  надійності  контролю.  Луна-сигнали  від
                            дефекту  у  цьому  випадку  можуть  оптимально  уловлюватися
                            тільки другим перетворювачем, розташованим на певній від-
                            стані від першого. Ця відстань залежить від товщини листа і
                            глибини дефекта. Цей спосіб називається «тандем-методом» і

                                                           54
   50   51   52   53   54   55   56   57   58   59   60