Page 54 - 6394
P. 54

прямим променем; L mаx =(n + l)*    tg   - під час контролю
                            відбитим  променем;  де   -  товщина  металу;   -  кут  розпов-
                            сюдження  ультразвукових  коливань  у  виробі;  n  –  кількість
                            відбитків ультразвукового променю в металі.
                                  Крок  повздовжнього  сканування  не  повинен перевищу-
                            вати половини діаметра перетворювача. У процесі переміщен-
                            ня перетворювача його потрібно неперервно повертати  навко-
                            ло своєї осі на кут  15  0   для того, щоб виявити за допомогою
                            різних  орієнтованих  дефектів.  Контакт  перетворювача  з  по-
                            верхнею контрольованого виробу потрібно забезпечувати лег-
                            ким натисканням руки на перетворювач. Під час появи луно-
                            сигналу від дефекту на робочій ділянці розгортки зони перемі-
                            щення  перетворювача  скорочують  і  проводять  вимірювання
                            інформативних  характеристик:  координат,  амплітуди  луно-
                            сигналу, умовної висоти, умовної ширини і кількості дефектів
                            на ділянці шва.
                                  Налаштування дефектоскопа проводять в такій послідов-
                            ності. Налаштування швидкості розгортки здійснюйте по ку-
                            тах зразка для налаштування (рис. 5.6).
                                  Плавно  переміщуючи  п’єзоперетворювач  по  поверхні
                            взірця, послідовно отримують відбиті від нижнього кута взір-
                            ця  прямим  променем,  від  верхнього  кута  –  однократно  від-
                            битим променем сигнали. Відбиті сигнали від нижнього і від
                            верхнього  кута  зразка  для  налаштування  визначають  за  змі-
                            ною  висоти  сигналу  під  час  прощупування  місць  відбиття
                            пальцем,  змоченим  контактною  речовиною. Регулюючи  три-
                            валість  розгортки,  луна-сигнал  від  верхнього  кута  зразка
                            встановлюють на відстані від 10 до 15 мм від правого краю
                            екрану дефектоскопа. Налаштування строб-імпульса здійсню-
                            ють за зарубками в зразку для налаштування (рис. 5.6). Пере-
                            міщуючи  перетворювач  по  поверхні  зразка,  знаходять  луна-
                            сигнали  від  нижньої  зарубки  прямим  променем  (рис.5.6)  і
                            суміщують передній фронт строб-імпульса з положенням мак-
                            симуму цього луна-сигналу.




                                                           53
   49   50   51   52   53   54   55   56   57   58   59