Page 81 - 6391
P. 81

Електричні  методи  засновані  на  тому,  що  багато  елек-
                            тричних характеристик матеріалу за певних умов прямо зале-
                            жать від його товщини.
                                  На рис. 9.1 зображено: 1-котушка електромагніту; 2- по-
                            криття; 3-основа; 4-сердечник з магніто-м'якої сталі; 5- пласт-
                            масова або скляна трубка; 6-міліамперметр з шкалою, програ-
                            дуйованою в мікрометрах; 7-вимірювальний прилад; 9 –давач
                            Холла; 10- стержневий магніт; 11-вимірювальна обмотка; 12-
                            джерело струму; 13-генератор; 14-котушка індуктивності; 15-
                            вимірювальний  електрод;  16-частотомір;  17-котушка  збуд-
                            ження; 18-вимірювальний щуп; 19-нагрівальний елемент; 20-
                            підсилювач.
                                  При вимірюванні величини електричної провідності, яка
                            пропорційна товщині покриття, використовують чотири елек-
                            троди (рис.9.1,  г). Два з них підключають до джерела  елек-
                            тричного  струму,  а  два  внутрішні  електроди  сполучають  з
                            електричним вольтметром, покази якого характеризують тов-
                            щину вимірюваного покриття. Цим методом можна виміряти
                            товщину покриттів із струмопровідного або напівпровіднико-
                            вого матеріалу, нанесеного на неструмопровідну основу. Про-
                            відність покриття залежить від його товщини, причому точ-
                            ність вимірювання може складати ± 2 %. Процес вимірюван-
                            ня дискретний.
                                  У  разі  вимірювання  товщини  покриття  з  струмонепро-
                            відного матеріалу на струмопровідній основі  зручний метод
                            ємності, при якому діелектричні властивості покриття впли-
                            вають  на  ємність  конденсатора,  включеного  в  коливальний
                            контур (рис.9.2, д). Товщина покриття пропорційна квадрату
                            частоти коливального контура. Метод придатний для вимірю-
                            вання товщини покриттів від 0,01мкм, при точності вимірю-
                            вань  ± 5 %.
                                  Суть методу вихрових струмів полягає в тому, що елек-
                            тричний струм, який наводиться магнітним потоком котушки
                            в покритті  і основі створює вторинний магнітний потік, на-
                            прямлений  назустріч  першому  (рис.9.1,  е).  При  зменшенні
                            опору вторинному струму, у випадку добре провідних мате-
                            ріалів, збільшується вплив вторинного потоку. Останній змі-

                                                           80
   76   77   78   79   80   81   82   83   84   85   86