Page 78 - 6391
P. 78

бути використані для контролю товщини покриття. Їх розді-
                            ляють  на  три  групи:  широко  застосовувані,  застосовувані  й
                            рідко  застосовувані.  До  першої  групи  відносять  магнітні,
                            вихреструмові і радіаційні; до другої – електричні, радіохви-
                            льові, оптичні; до третьої – теплові й акустичні.
                                  Радіометричні методи основані на використанні власти-
                            вості радіоактивного випромінювання вступати у взаємодію з
                            матеріалом. При впровадженні пучка радіоактивних частинок
                            у  матеріал,  їх  розсіювання  відбувається  у  всіх  напрямках.
                            Частка зворотньо розсіяних частинок використовується як не-
                            пряма  міра  товщини  розсіюючого  шару.  Інтенсивність  зво-
                            ротнього розсіювання при постійних параметрах джерела ви-
                            промінювання  (радіоізотопа)  і  постійної  геометрії  давачіів
                            залежить від порядкового номера елемента в періодичній сис-
                            темі  і  товщини  шару,  що  вимірюється.  Метод  зворотнього
                            розсіювання  застосовується  для  вимірювання  товщини  по-
                            криття при всіх поєднаннях матеріалів, коли порядкові номе-
                            ри (Zo – матеріалу основи, Zп – матеріалу покриття) значно
                            відрізняються  один  від  одного,  зокрема  коли  виконується
                            умова |Zo–Zn| >3.
                                  Метод,  який  базується  на  вимірюванні  поглинання,
                            можна  використовувати  при  будь-якому  поєднанні  матеріа-
                            лів.  У  залежності  від  типу  джерела  випромінювання  маса
                            поєднання основний матеріал – покриття на одиницю поверх-
                                                                                           2
                                                                   -1
                                                                           2
                                                                                    4
                            ні може складати приблизно від 1∙10  мг/см  до 2∙10  мг/см .
                            Точність вимірювань складає ± 3 % або ± 10 % в залежності
                            від матеріалу.
                                  Рентгенофлуоресцентний  метод  –  збудження  атомів  за
                            допомогою бета- або квантового випромінювання, при якому
                            збуджені  атоми  емітують  рентгенівське  випромінювання,
                            інтенсивність якого залежить від числа випромінюючих ато-
                            мів, тобто від товщини шару – особливо успішно застосову-
                            ється  при  вимірюванні  товщини  дуже  тонких  покриттів  –
                            приблизно до 10 мкм. При цьому повинна виконуватися умо-
                            ва  |Zo–Zn|  ≥  1.  Діаметр  поля  вимірювання  повинен  бути  не
                            менше 10 мм.



                                                           77
   73   74   75   76   77   78   79   80   81   82   83