Page 160 - 5

електропровідних шарів (від сотих долей мікрометра до десятків міліметрів)
на ізоляційних основах. Правда, тут із ними конкурують радіаційні

(радіоізотопні і рентгенофлюоресцентні) товщиноміри, які особливо
ефективні при контролі покрить малої товщини (до 30-50 мкм) на металевих

основах. При користуванні цими приладами не суттєвим є вид матеріалу
покриття і основи (електропровідний або неелектропровідний, феро- чи

неферомагнітний), важливою є лише обставина, щоб атомні номери хімічних

елементів матеріалів покриття і основи розрізнялися на 1-2 одиниці. Недолік

приладів цього типу - велика вартість (у порівнянні з вихрострумовими

приладами) і необхідність дотримання вимог радіаційної безпеки. При

вимірюванні товщини покрить на феромагнітних основах або товщини

феромагнітних покрить (нікелю, кобальту) кращими є магнітні товщиноміри.

Для метрологічного забезпечення товщиномірів покрить

розробляються і випускаються контрольні зразки. Так, НВО “Исари” (м.

Тбілісі) випускає комплекти атестованих зразків покрить, внесених у

Державний реєстр зразкових мір колишнього СРСР. Однак вони охоплюють

далеко не всі поширені сполучення покрить і основ і, крім того, дорогі. Тому

для укомплектування товщиномірів застосовують контрольні зразки, які

виготовлені та атестовані виготовлювачем приладів або споживачем.

Перспективними є застосування імітаторів товщини покрить різних типів, а

також електричні способи перевірки і калібрування, які дозволяють

скоротити кількість контрольних зразків.

15.3 Вихрострумові структуроскопи

Вихрострумова структуроскопія об'єктів із неферомагнітних

матеріалів базується на зв'язку питомої електричної провідності з їхніми

фізико-механічними характеристиками. Вимірювачі питомої електричної

провідності зазвичай застосовуються з накладним ВСП. Структуроскопи з