Page 159 - 5

бути лак, фарба, емаль, скло, гума, пластмаса, оксидні і фосфатні шари.
Матеріали основи можуть бути феро- і неферомагнітними. Якщо основа

виконана з феромагнітних матеріалів, то більш ефективнішим є застосування
магнітних товщиномірів. Типовими неферомагнітними електропровідними

основами є - алюмінієві сплави, латунь, бронза, мідь та ін.
Особливий випадок застосування товщиномірів покрить має місце при

вимірюванні товщини ізоляційних шарів за допомогою так званих заставних

елементів, що виконуються у вигляді металевих пластинок або фольги, які

закладаються в технологічному процесі в діелектричний об'єкт і

покриваються потім шарами діелектриків, товщину котрих необхідно згодом

вимірювати. Цей прийом використовується для вимірювання товщини

асфальтобетонних покрить автомобільних доріг у процесі будівництва й

експлуатації, діелектричних шарів композиційних матеріалів, які

виготовляють методом намотуванням із склотканини та ін.

З точки зору вихрострумового контролю вимірювання товщини

діелектрика на провідній основі є задачею вимірювання зазору між

накладним ВСП і поверхнею провідної основи. Тому, як вказано вище при

аналізі теоретичних аспектів вихрострумового контролю у цьому випадку

доцільно вибирати по можливості найбільше значення узагальненого

параметра. Обмеження його максимального значення визначається

найбільшим технічно досяжним значенням частоти струму збудження,

оскільки при незмінному радіусі ВСП збільшення узагальненого параметра

можливе тільки шляхом зростання частоти. Граничне значення частоти

збудження доцільно вибирати таким, щоб воно не менше, ніж у 2-3 рази,

було нижчим власної резонансної частоти ВСП із сполучним кабелем.

Зазначимо, також, що вихрострумові товщиноміри покрить практично

поза конкуренцією при вимірюванні шару ізоляційних покрить на

неферомагнітних електропровідних основах, що у широкому діапазоні

товщин покрить від одиниць мікрометрів до десятків сантиметрів. Вони

успішно застосовуються також для вимірювання товщини неферомагнітних