Page 142 - 4154
P. 142

суми.
                   Враховуючи  зазначені  правила,  загальну  похибку
             обробки  циліндричної  поверхні  доцільно  визначити  за
             формулою:
                                   2
                                        2
                         1,2                      .     (10.14)
                                                             
                   обр ( )R        н    у      і    т      в Ф
                   Тут 1,2 - коефіцієнт відносного розсіювання. Отримана
             за формулою (10.14) похибка обробки відноситься до радіусу.
                   Загальну  похибку  обробки  відносно  діаметру  обробки
             визначають за формулою:
                                    2     .                                     (10.15)
                               обр      обр ( )R
                   Аналіз точності обробки включає побудову теоретичної
             діаграми  точності.  Для  цього  загальну  похибку  необхідно
             представити як суму двох складових:
                                               ,                         (10.16)
                                 обр    м . .р  сист
             де Δ сист - систематично закономірно змінна складова похибки,
             яка залежить від часу обробки:
                                       2      .                          (10.17)
                                сист       і    т
             Δ м.р.  -  миттєве  розсіювання  розмірів  з  урахуванням  похибки
             налагодження:
                                    
                                                 2
                                            2
                                 2 1,2              .          (10.18)
                            м . .р          н     у    в Ф
                   Діаграму точності будують в координатах час (τ) - розмір
             (d)  (рис.  10.4).  По  осі  ординат  відкладають  найбільше  і
             найменше  допустимі  значення  розмірів,  тобто  поле  допуску
             Т d.
                   На  осі  діаметрів  від  нижньої  границі  допуску  вверх
             відкладають величину   min  , що рівна найменшому значенню
                                     сист
             Δ сист.  Отримується  певна  точка  X.  З  точки  Х  будують
             залежність  Δ сист=f(τ)  за  даними,  попередньо  вичисленими  і
             занесеними  в  таблицю  10.4. Отриманий  графік  є  нижньою
             теоретичною границею розсіювання розмірів під час обробки.
             Для  отримання  верхньої  границі  і  лінії  середніх  значень
             розсіювання  з  точки  X  вверх  відкладають  відповідно  Δ м.р  і
                                         142
   137   138   139   140   141   142   143   144   145   146   147