Page 28 - 6793
P. 28

Рисунок 4.2 - Планшет для роботи з АВД-діаграмами

                                Хід роботи
                                1.  Налаштування  чутливості  за  допомогою  АВД-діаграм
                                   полягає  у  визначенні  за  діаграмою  розрахункового
                                   відношення    луна-сигналу  A  (на заданій відстані)
                                                   0 S                0 S
                                   до  опорного  сигналу  А оп  відомого  відбивача.  Потім
                                   аттенюатором  дефектоскопа  вимірюють  амплітуду
                                   реального  опорного  сигналу  А оп.  вим.,  і  чутливість
                                   приладу  змінюється  від  рівня  цього  сигналу  на
                                   величину       .     Звичайно     чутливість    приладу
                                                   0 S
                                   налаштовують  так,  щоб  дефекти  із  еквівалентною
                                   площею  S o  і  більшою  могли  бути  виявлені  на
                                   максимальній глибині.
                                       Приклад 4.1. Потрібно набудувати чутливість S 0=3
                                   мм на глибині r=300 мм. За опорний сигнал приймемо
                                   донний сигнал також з глибини 300 мм.
                                2.  Оцінка  еквівалентної  площі  S ЕКВ   за  допомогою  АВД-
                                   діаграм    полягає     у   вимірюванні     аттенюатором
                                   дефектоскопа  відношення  або  різниці  Δ деф  амплітуд
                                   опорного сигналу і сигналу від виявленого дефекту. В
                                   даному  випадку  потрібно  знати  коефіцієнт  загасання
                                   ультразвуку,  (дБ).  На  АВД-діаграмі  з  урахуванням
                                   загасання  знаходять  таку  криву,  на  якій  розташована
                                   точка  з  абсцисою,  рівною  відстані  до  дефекту,  і  з
   23   24   25   26   27   28   29   30   31   32   33