Page 51 - 6391

нішній вигляд мікропроцесорного дефектоскопа з рідкокрис-
талічним дисплеєм (DIO-562) зображений на рис.6.3 (б).
До допоміжних пристосувань дефектоскопів відносяться
координатні лінійки і шаблони різних конструкцій, що спро-
щують визначення координат дефектів при прямолінійних і
криволінійних поверхнях виробу, планшети (АРД-діаграми)
для визначення розмірів дефектів по амплітуді луна-сигналу,
обмежувачі переміщення шукачів, необхідні для контролю
кутових зварних швів, і ін. Для проведення УЗК зварних з'єд-
нань використовують дефектоскопи, що працюють в діапа-
зоні частот 1 – 5 МГц.
Умовними розмірами виявленого дефекту є: протяж-
ність, ширина, висота.
Умовну протяжність в міліметрах виміряють по довжині
зони між крайніми положеннями перетворювача, переміщу-
ваного вздовж поверхні.
Умовну ширину в міліметрах вимірюють по довжині зо-
ни між крайніми положеннями перетворювача, переміщува-
ного в площині падіння променя.
Умовну висоту в міліметрах або мікросекундах вимірю-
ють як різницю значень глибини розташування дефекту в
крайніх положеннях перетворювача, переміщуваного в пло-
щині падіння променя.
При вимірюванні умовних розмірів за крайні положення
перетворювача приймають такі, при яких амплітуда луна-сиг-
налу від дефекту, що виявляється, або складає 0,5 від мак-
симального значення, або зменшується до рівня, відповідного
заданому значенню чутливості.
Допускається за крайні положення приймати такі, при
яких амплітуда луна-сигналу від дефекта, що виявляється,
складає задану частину від 0,8 до 0,2 від максимального зна-
чення. Прийняті значення рівнів повинні бути вказані при
оформленні результатів контролю.

50