Page 143 - 5

Т – товщина контрольованого листа;
h 3 , h - віддалі по поверхні листа до середини висоти обмоток
B

збуджуючої і вимірювальної відповідно;

μ – магнітна проникність між об'єктом контролю та перетворювачем.


На рис. 13.4 зображено годографи U ( ,  T ) для не магнітного
ВН * *
листа. Годографи показані на рис. 13.4 обмежені з однієї сторони

штрихпунктирною кривою, що відповідає нескінченній товщині листа

( T , півпростір), з другої сторони годографами для тонких (T  1)
*
листів. Суцільними лініями показані годографи U  вн * при зміні товщини


(  const ), штрихові лінії показують годограф U вн * при зміні

 ( параметру  ).

Аналізуючи приведені годографи, можна відмітити, що в загальному

випадку можливий роздільний контроль T i  .