Page 69 - 4420
P. 69
де та – кількість витків намагнічуючої та
w 1 w 2
вимірювальної обмоток; – намагнічуючий струм; S – площа
I 1
перерізу магнітопроводу; – товщина покриття;
– комплексний магнітний опір
Z м Х м Rм R R
магнітопроводу (тут та – реактивна та активна
X м Rм
складові комплексного магнітного опору магнітопроводу, що
значно менші від магнітного опору покриття 2 ).
R
R
S
o
Рисунок - 2.5 Вимірювач товщини гальванічного покриття
На базі такого методу побудовані прилади для
вимірювань товщини покриття в межах до 3 мм з похибкою
10...15 %.
Серед методів руйнівного контролю найпоширенішим
є хімічний метод, який оснований на усуненні покриття за
допомогою спеціальних хімічних реактивів. За цим методом
мірою товщини покриття може бути час усунення покриття
або його маса чи різниця між масою покритої деталі та масою
деталі після усунення покриття.
- 68 -