Page 32 - 4246
P. 32

6.3 Розрахунок на точність контрольного пристосування


               Сумарна похибка вимірювання та її складові. При розрахунку КВП на точність
        визначають  його  сумарну  похибку  вимірювання,  що  складається  з  систематичних  і
        випадкових похибок, за наступною формулою:


                                                                                    ,                      (2)


        де          –  систематична  похибка,  викликана  неточністю  виготовлення  опорних
        елементів    і  неточністю  їх  розташування  на  корпусі  контрольно-вимірювального

        пристрою при його складанні;
                    - систематична похибка, викликана неточністю виготовлення  передавальних

        елементів, важелів, штифтів, стержнів  та ін.;
                    – систематична похибка, викликана неточністю  виготовлення кінцевих мір

        довжини  і  еталонних  деталей,  використовуваних  для  налагодження  засобів
        вимірювання на контрольований параметр при їх використання;

                     –  похибка,  викликана  несуміщенням  вимірювальної  бази  з  технологічною
        базою (у пристроях для між операційного контролю) або конструкторською базою (у
        пристроях для кінцевого контролю);

                    –  похибка,  що  виникає  в  результаті  закріплення  контрольованого  об’єкту,
        внаслідок  його можливої деформації (не враховується, якщо деталь жорстка, а сили

        закріплення невеликі або відсутні);
                    - похибка, залежна від вимірювальної  сили, виникає  в результаті зміщення

        вимірювальної  бази  деталі  від  заданого  положення  в  процесі  вимірювання,  має
        випадковий  характер,  враховується  тільки  для  високоточних  вимірюваннях  або  при
        контролі нежорстких деталей;

                    - похибка, що виникає внаслідок зазорів між осями важелів передавальних
        механізмів(при їх наявності);

                    - похибка використовуваного засобу вимірювання;
                    -  інші  похибки,  викликані  дією  випадкових  чинників  під  час.  До  них

        відносяться: похибка базування деталі, похибка від зносу елементів пристроїв і їхніх
        температурних деформацій, похибка, пов’язана з кваліфікацією  контролера, похибка
        відхилення  деталей  або  еталонів  від  правильної  геометричної  форми  (при  їх

        використанні) та ін. Вклад цих похибок окремо незначний, проте в сумі вони можуть
        вплинути на точність контролю. У навчальних цілях в розрахунках для цієї категорії
        похибок  виділяють  частину  допуску  на  контрольований  параметр.  Так,  для

        контрольних пристроїв можна прийняти.





                                                           31
   27   28   29   30   31   32   33   34   35   36   37