Page 148 - 6649

1м-10-14 м (радіохвильові, інфрачервоні, видимі, ультрафіолетові, рентге-
нівські та гама-випромінювання).
Під час взаємодії випромінювання з об’єктом контролю змінюється
напрямок його поширення, потужність, поляризація і т.д. Ці зміни відобра-
жають експлуатаційні характеристики ОК (наявність несуцільностей, спів-
відношення розмірів, фізико-хімічні властивості) і дають змогу передба-
чити ймовірність відхилення цих характеристик від заданих у процесі
експлуатації виробу. Встановлення залежностей між зміною параметрів
електромагнітного випромінювання з експлуатаційними характеристиками
ОК під час їх взаємодії і складають суть фізичних основ неруйнівного кон-
тролю (НК) випромінюванням.
Магнітний метод контролю ґрунтується на аналізі взаємодії магніт-
ного поля із контрольованим об'єктом. Його, як правило, застосовують для
контролю об'єктів з феромагнітних матеріалів. За характером взаємодії
фізичного поля з об'єктом цей вид контролю не диференціюють: в усіх ви-
падках використовують намагнічування об'єкта і вимірюють параметри,
що використовують під час контролю магнітними методами. Властивості,
які потрібно контролювати (хімічний склад, структура, наявність пору-
шень суцільності та ін.), пов'язані з параметрами процесу намагнічування і
петлею гістерезисну
Магнітожорсткі матеріали (загартована сталь) у порівнянні з магніто-
м'ягкими матеріалами (незагартованою сталлю) мають велику коерцитивну
силу, малу магнітну проникність і намагнічування. Стрибки зливаються в
суцільний шум, якщо маса матеріалу, що намагнічується, велика, тому цей
спосіб застосовують до тонких дротів, стрічок.
Електричні методи контролю ґрунтуються на реєстрації параметрів
електричного поля, взаємодіючого з контрольованим об'єктом (власне
електричний метод), чи поля, що виникає в контрольованому об'єкті в
результаті зовнішнього впливу (термоелектричний і трибоелектричний ме-
тоди). Первинними інформативними параметрами є електричні ємність або
потенціал.
Ємнісний метод застосовують для контролю діелектричних чи напів-
провідникових матеріалів. По зміні діелектричної проникності, у тому чис-
лі її реактивної частини (діелектричним втратам), контролюють хімічний
склад пластмас, напівпровідників, наявність у них процесу суцільностей,
вологість сипучих матеріалів і інші властивості.
Метод електричного потенціалу застосовують для контролю провідни-
ків. Вимірюючи падіння потенціалу на деякій ділянці, контролюють тов-
щину провідного шару, наявність процесу суцільності поблизу поверхні
провідника. Електричний струм обгинає поверхневий дефект, по збільшен-

147