Page 17 - 6392

д) виявлення дефектів.

Недоліком візуального контролю є:
а) низька чутливість методу;
б) висока трудоємкість процесу;
в) висока собівартість процесу контролю;
г) складне обладнання для контролю;
д) можливість застосування даного контролю тільки для
феромагнітних матеріалів.

Сумнівні місця об’єкта контролю позначають:
а) клеймом;
б) свинцевими знаками;
в) крейдою або незмивною червоною фарбою;
г) червоним маркером;
д) спеціальною биркою.

При збільшенні кратності оптичних приладів:
а) зростає продуктивність контролю.
б) втомлюється зір оператора контролю;
в) поле зору залишається незмінним;
г) збільшується поле зору;
д) зменшується поле зору.

Мікроскопи призначені для:
а) виявлення дефектів на віддалених поверхнях;
б) виявлення дефектів на скритих поверхнях;
в) виявлення дефектів на близько розташованих поверхнях;
г) виявлення дефектів на дрібних деталях;
д) виявлення дефектів на деталях без їх демонтажу з вузла.

Можливості візуально-оптичного контролю розширює:
а) хімічне травлення поверхні;
б) використання ультрафіолетового випромінювання;
в) використання інфрачервоного випромінювання;
г) використання ультразвукової обробки поверхні;
д) використання багатостадійного огляду поверхонь.

Для інструментального контролю використовують:
а) ендоскопи і телевізійні системи;
16