Page 25 - 4888

У процесі еталонування бажано будувати криву
залежності відліків приладу від інтенсивності
випромінювання еталону (рис. 3.3). Це дозволяє своєчасно
побачити і виправити незакономірний хід еталонної кривої,
що зумовлений помилками знімання відліків по шкалі
приладу або геометрії установки.
Через те, що відлік показів приладу обумовлений не
тільки  -випромінюванням еталону I , але і фоном Ф місця


еталонування, нуль абсциси еталонованої кривої зміщується
вліво на величину Ф . Величина Ф визначається шляхом


екстраполяції (продовження) початкової лінійної частини
градуйованої кривої до вісі абсцис.
Відстань від точки перетину екстрапольованої частини
кривої з віссю абсцис до вибраного раніше початку
координат, який подано в масштабі осі абсцис, дорівнює
шуканому фону місця еталонування (в мкР/год).

Знімання гамма-поля
Гамма-знімання відбувається по площі, на якій
попередньо розмічена сітка згідно з мірилом знімання. На
лабораторній роботі виміри здійснити на розміченій ділянці
(10 х 10 квадратів). Для визначення точності знімання
проводяться контрольні виміри 3 5 % від усіх точок. У
нашому випадку провести повторний вимір в точках по одній
із діагоналей. Точність визначають за формулою

2
 n( p  n k )
 , (3.3)
m  1

де n - рядовий вимір; n - контрольний вимір; m -
p
k
кількість контрольних точок.

Радіометричну карту будують з перетином ізоліній
гамма-інтенсивності   2, 5  .

24