Page 72 - 4373

включень у деталях товщиною від 1,0 мм до 2800 мм. До
експлуатаційних параметрів луна-методу відносяться: чутли-
вість методу контролю і роздільна здатність. Чутливість ме-
тоду контролю характеризує мінімальні розміри дефектів того
або іншого типу, які впевнено (із заданою ймовірністю) вияв-
ляються у виробах певного типу.
У практиці контролю якості використовують в основно-
му луна-імпульсний метод (або метод луна-локації). Він поля-
гає в озвучуванні виробу короткими імпульсами 1 ультразвуку
і реєстрації луна-сигналів 3, відображених від дефекту до
приймача. Ознакою дефекту є поява луна-сигналу (імпульсу)
3 на екрані дефектоскопа (рис. 7.1,а). У деяких випадках
ультразвуковий контроль доцільно здійснювати тіньовим
(рис. 7.1, б) або дзеркально-тіньовим методом. При тіньовому
методі ознакою дефекту є зменшення амплітуди сигналу 4, що
пройшов від випромінювача до приймача. Тіньовий метод
дозволяє використовувати не імпульсне, а безперервне випро-
мінювання. Ознакою дефекту при дзеркально-тіньовому мето-
ді є зменшення амплітуди сигналу 2 (див. рис. 7.1, а), відо-
браженого від протилежної (донної) поверхні виробу.

Г – генератор зондуючих імпульсів, П – приймач

Рисунок 7. 1 – Схема ультразвукового контролю
луна-імпульсним (а) і тіньовим (б) методами
70