Page 14 - 4147

відносна якість вакууму, відсутність обривів у
міжелектродних виводах;
- у кенотронів відсутність короткого замикання між
електродами, випрямний струм;
- у діодів відсутність короткого замикання між
електродами, анодний струм;

Таблиця 1.1 - Технічні характеристики приладів для
перевірки транзисторів

Вимірюваний Похибка
Прилад Діапазон вимірів
параметр виміру, %
-5
-12
Струм втрат 0,3 *10 – 10 А
Струм стоку 0,1-50мА
Л2-31 Вхідна ±5
-3
диференціальна (2 - 1000)*10 Ом
провідність
Напруги і U к.Є.нас.=0,1-10 В
струми U б.Є.нас=0,1 -10 В
Л2-42 ±5
потужних I кб0,I еб0,I ке0=(13)*1
4
транзисторів 0 мкА
Гранична
частота
Л2-43 малопотужних 10 –1600 Гц ± 15
високочастотних
транзисторів
Примітка: I кб0 ,I еб0 ,I ке0 - струми відповідно між нульовою
крапкою, колектором і емітером, а також між колектором і
емітером щодо нульової точки. U к.Є.нас.U б.Є.нас - напруги
відповідно між колектором і емітером, між базою і емітером у
режимі насичення.

-у газонаповнених стабілітронів відсутність короткого
замикання між електродами, напруга стабілізації.

14